Els problemes de metal·lització en el processament de semiconductors, com ara l'electromigració i l'augment de la resistència de contacte, poden degradar el rendiment i la fiabilitat dels xips. Aquests problemes són causats principalment per fluctuacions de temperatura i canvis microestructurals. Les solucions inclouen un control precís de la temperatura mitjançant refrigeradors industrials, processos de contacte millorats i l'ús de materials avançats.