Проблеми металізації в обробці напівпровідників, такі як електроміграція та підвищений контактний опір, можуть погіршити продуктивність та надійність мікросхем. Ці проблеми в основному спричинені коливаннями температури та мікроструктурними змінами. Рішення включають точний контроль температури за допомогою промислових чилерів, вдосконалені контактні процеси та використання передових матеріалів.
Точний контроль температури для лазерних систем та промислового застосування з 2002 року
Мова
